Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
High-resolution X-ray diffraction and electron microscopy study of porous GaAs substrates.
Autoři publikace:
Lomov, A. A.
Grym, J.
Nohavica, D.
Orehov, A.S.
Vasil'ev, A. L.
Novikov, D. V.
Rok:
2013
DOI:
10.1117/12.2019787
Bibliografický formát:
Lomov, A. A. ; Grym, Jan ; Nohavica, Dušan ; Orehov, A.S. ; Vasil'ev, A. L. ; Novikov, D. V. High-resolution X-ray diffraction and electron microscopy study of porous GaAs substrates. In Orlikovsky, A.A. (ed.). International Conference Micro- and Nano-Electronics 2012 (Proc. SPIE 8700). BELLINGHAM : SPIE (2013)
Tým:
Příprava a charakterizace nanomateriálů
