Characterization of Low Defect Density Native Gallium Nitride Materials

Poskytovatel: US Missile Defense Agency

Řešitel: Ing. Eduard Hulicius, CSc.

Členi: Miloslav Frühauf; doc. Petar Gladkov, Ph.D.; RNDr. Jan Lorinčík, CSc.; RNDr. Jiří Zavadil, CSc.; Ing. Jiří Zelinka

Od: 2007-12-31

Do: 2009-12-31

 

 

 

 

 

ÚFE provádí základní a aplikovaný výzkum v oblasti fotoniky, optoelektroniky a elektroniky. ÚFE příspívá k rozvoji poznání v těchto oblastech a vytváří širokou bázi znalostí, jako základ pro vývoj nových špičkových technologií.

Kontakt

+420 266 773 400
ufe@ufe.cz
Datová schránka: m54nucy
IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882